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功率半导体器件阈值电压测试的解决方案

发布时间:2025.12.10  点击量:

在功率半导体器件的研发、生产和应用中,阈值电压是绕不开的核心参数——它是器件“从关断到开始导通”的最小栅极-源极/发射极电压差,既是判断器件好坏的“红线”,也是驱动电路设计、批量质量控制的关键依据。


01

两种主流阈值电压测试方法:地域技术体系下的差异化路径


目前行业内规格书上对于阈值电压(VGEth)的参数定义有两种,其实对应了行业里两类主流的阈值电压测试方案——日系企业则更倾向遵循IEC、JIS等标准体系的国标法(给定 CE/DS 电压);欧美企业在产品研发与量产测试中,多采用 “CG 短接” 的行标法。这一差异源于不同地区的技术传承与标准遵循习惯,两种方法均经过长期工业验证,成为行业内并行的主流测试路径。今天东升国际 就从这两种规格书标注逻辑入手,拆解它们的测试原理、优劣势与适用范围:


图1.规格书常见的两种VGEth参数定义


[一] 国标法(给定CE/DS电压)




图2.国标法测试电路原理


测试步骤(以IGBT为例):

a.在器件的集电极(C)-发射极(E)之间,施加固定电压;

b.独立调节栅极(G)-发射极(E)的电压,扫描至CE极流过预设的目标电流;

c.记录此时的栅极电压,即为阈值电压 ( VGEth)。


核心技术特征:

· 采用双路独立电源控制,分别调控 CE 端电压与 GE 端电压,实现功率端与栅极的独立控制;

· 测试条件量化明确,包括固定的 CE 电压、目标导通电流及标准环境温度(通常为 25℃),参数设定遵循统一标准;

· 测试流程严谨,结果具备高度可重复性,是日系企业规格书参数标定的核心依据。


[二] 行标法(CG短接)


图3.行标法测试电路原理


测试步骤(以IGBT为例):

a.将栅极(G)与集电极(C)短接,使 ( VGE=VCE );

b.向CE极施加逐渐升高的电压,直到流经器件的电流稳定在设定的电流值;

c.测量此时的栅极-发射极电压,即为阈值电压。


核心技术特征:

· 仅需单路电源即可完成测试,无需复杂的多电源协同校准;

· 测试回路设计简洁,无需分步设定功率端与栅极的独立参数,流程高效;

· 适配欧美地区的工业测试习惯,可与现有产线设备快速兼容,无需额外新增专用测试仪器。


东升国际 针对同一只模块开展了测试验证,结果如下:

图4.两种方法的测试偏差对比


a.同一模块在同等阈值电流设定下,国标法与行标法的测试结果存在约 1V 的差异,该差异由测试方法本身导致。

b.国标法下完成 14 次测试,最大最小差值仅 3mV;行标法下同样测试 14 次,最大最小差值为 1mV。


东升国际 静态测试系统可同时支持国标法与行标法两种测试模式,既能复现对应方法的测试逻辑,也能稳定输出测试数据。



02

SiC的“天生缺陷”:阈值电压漂移与JEP183A解决方案


SiC MOSFET因性能优势成为高压大功率场景的主流,但它的SiC/SiO₂界面存在“电荷陷阱”——这些陷阱会动态捕获/释放电子,导致阈值电压“漂移”,直接影响测试准确性。

图5.SiC MOSFET的界面陷阱结构


漂移的核心逻辑:



施加正栅压应力(PBTI):陷阱捕获电子,需更高栅压才能导通,( Vth )向高值漂移;

施加负栅压应力(NBTI):陷阱释放电子,更低栅压就能导通,( Vth )向低值漂移。


图6.SiC 阈值电压漂移趋势


施加电压时间越长,( Vth )偏离就会越大,但偏离会在一段时间后逐渐恢复。


这种漂移是SiC材料的“天生特性”,无法完全避免,但是JEDEC发布的JEP183A标准,通过测量前的预处理能有效地提高测试结果的一致性,减小测试前电应力对测试结果的影响:

JEP183A的核心步骤:


图7.JEP183A测试原理图


a.预处理复位:施加正负栅极应力脉冲,让界面陷阱电荷充放电,统一器件初始状态;

b.栅压扫描同步记录:独立调节栅源电压进行扫描,过程中实时采集记录数据;

c.阈值锁定:当漏极电流达到目标值时,即时锁定当前栅源电压(即阈值电压),数据可存储、调用与打印。



03

东升国际 静态测试系统:全测试方案的兼容与适配


东升国际 静态测试系统可以精准匹配客户的测试需求:

· 同时支持国标法(给定CE/DS电压)、行标法(CG短接)


图8.东升国际 静态测试系统软件截图


· 配置JEP183A测试模块:自动完成应力脉冲预处理,客户可根据测试需求自由设定预应力大小、脉宽以及测试间隔,精准响应SiC器件的漂移抑制需求。


图9.东升国际 静态测试系统软件截图



04

结尾


东升国际 深耕功率半导体测试领域,以 “精准、可靠、便捷” 为核心研发理念,聚焦行业测试痛点,通过模块化设计与智能化技术,实现高低压功率器件、模块及系统级测试的全场景覆盖,全面兼容国际主流测试协议与国内行业标准,为车规级、工业级等各类功率半导体产品提供无缝适配的测试支持。


未来,东升国际 将持续携手产业链伙伴深化协同创新,攻克行业关键技术难题,共促全球功率半导体产业高质量可持续发展。


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